Category: Analisis

Difraksi Sinar X

Difraksi sinar X atau X-ray diffraction (XRD) adalah suatu metode analisa yang digunakan untuk mengidentifikasi fasa kristalin dalam material dengan cara menentukan parameter struktur kisi serta untuk mendapatkan ukuran partikel. Profil XRD juga dapat memberikan data kualitatif dan semi kuantitatif pada padatan atau sampel. Difraksi sinar X ini digunakan untuk beberapa hal, diantaranya:
• Pengukuran jarak rata-rata antara lapisan atau baris atom
• Penentuan kristal tunggal
• Penentuan struktur kristal dari material yang tidak diketahui
• Mengukur bentuk, ukuran, dan tegangan dalam dari kristal kecil
Difraksi sinar-X terjadi karena pada hamburan elastis foton-foton sinar-X oleh atom dalam sebuah kisi periodik. Hamburan monokromatis sinar-X dalam fasa tersebut memberikan interferensi yang konstruktif. Penggunaan difraksi sinar-X untuk mempelajari kisi kristal adalah berdasarkan persamaan Bragg berikut ini.
Read more »

UPT Laboratorium Terpadu, Universitas DIPONEGORO Jl. Prof. Soedarto, SH-Tembalang, Semarang 50239 INDONESIA EMAIL : labterpadu@live.undip.ac.id