Scanning Electron Microscope-Energy Dispersive X-Ray (SEM-EDX))

Scanning Electron Microscope (SEM) adalah jenis mikroskop elektron yang menghasilkan gambar sampel dengan memindai permukaan dengan sinar elektron yang terfokus dengan perbesaran hingga skala tertentu. Elektron berinteraksi dengan atom dalam sampel, menghasilkan berbagai sinyal yang berisi informasi tentang topografi permukaan dan komposisi sampel.

Energy Dispersive X-Ray (EDX) digunakan untuk analisis elemental kimia bahan. Kemampuan karakterisasi sebagian besar disebabkan oleh prinsip dasar bahwa setiap elemen memiliki struktur atom yang unik yang memungkinkan serangkaian puncak unik pada spektrum emisi elektromagnetiknya (yang merupakan prinsip utama spektroskopi).

Keuntungan Pelanggan: Pelanggan dapat menggunakan layanan pengujian ini baik SEM saja atau EDX saja atau kombinasi antara SEM dan EDX. Setiap paket sampel, Pelanggan mendapatkan kesempatan mengambil 3 titik gambar (masing-masing satu perbesaran gambar terbaik) atau satu titik sampel tetapi ada tiga skala perbesaran gambar yang terbaik).

Pelanggan dapat mengambil gambar penampang melintang (Cross-Sectional images) atau gambar penampang permukaan (surface images) untuk bahan-bahan padat logam, plastik, membran, katalis, tepung/powder, dan lain-lain.

Profil UPT Lab Terpadu
Analytical Scanning Electron Microscope (SEM-EDX JEOL JSM-6510LA)

Analytical Scanning Electron Microscope (SEM-EDX JEOL JSM-6510LA)

Analytical Scanning Electron Microscope (SEM-EDX JEOL JSM-6510LA)