UPT Laboratorium Terpadu Undip Mulai Membuka Layanan Pengujian Transmission Electron Microscope (TEM) (JEM-2100Plus JEOL) per tanggal 23 Januari 2025. Biaya tarif per sampel uji sudah termasuk biaya preparasi sampel TEM.
TEM (JEM-2100Plus JEOL) dapat digunakan untuk analisis Transmission Electron Microscopy (TEM) Low Resolution (LR-TEM) dan High Resolution (HR-TEM), analisis Scanning Transmission Electron Microscopy (STEM), analisis Tomography, dan analisis TEM-Energy Dispersive X-Ray Spectroscopy (TEM-EDS).
Layanan Transmission Electron Microscope (TEM) di UPT Laboratorium Terpadu Undip dapat menganalisis jenis-jenis sampel uji antara lain: (a) Advanced Materials, (b) Membrane (surface dan/atau cross section), dan (c) Thin Film (surface dan/atau cross section). Namun demikian, metode ini belum bisa melayani sampel jenis Biologi/Mikrobiologi.
PERSYARATAN SAMPEL UJI:
- Thin Film (ketebalan kaca substrat maksimum 0,5 cm).
- Advanced Materials (jika bentuk lempeng logam, ketebalan maksimum 0,5 cm; jika bentuk serbuk/powder minimum berat total 0,5 gram; jika bentuk cairan minimum volume total 15 mL dengan jenis pelarut ditentukan sendiri oleh Pelanggan atau diskusi dulu dengan Teknisi/Analis).
PENTING: Untuk memesan layanan ini, silakan menggunakan aplikasi Sistem Informasi Laboratorium (SIMLAB) pada tautan: https://simlab.undip.id/allPelayanan/detail/56.
Parameter-parameter yang dilayani pada metode uji Transmision Electrons Microscope (TEM) di UPT Laboratorium Terpadu Undip ini adalah:
- Low Resolution Transmission Electron Microscope (LR-TEM)
- High Resolution Transmission Electron Microscope (HR-TEM)
- Low Resolution Transmission Electron Microscope (LR-TEM) + Scanning Transmission Electron Microscopy (STEM)
- Electron Tomography (ET) – High Resolution Transmission Electron Microscope (HR-TEM)
- Tambahan + Electron Diffraction – TEM
- Tambahan + Energy Dispersive X-Ray Spectroscopy (TEM-EDS).