Semarang, 29 November 2024 – Layanan pengujian LR-TEM, HR-TEM, TEM-EDS, dan STEM menggunakan Transmission Electron Microscope (TEM) khususnya untuk kajian Advanced Materials, Membrane, dan Thin Film akan segera dibuka di UPT Laboratorium Terpadu Undip.
Metode/Peralatan yang digunakan adalah Transmission Electron Microscope (TEM) JEOL JEM-2100 PLUS dilengkapi dengan GATAN Sample Preparation Tools, dengan resolusi hingga 0.14 nm dengan accelerating voltage hingga 200 kV.
Features: The JEM-2100Plus JEOL can be used for analysing Transmission Electron Miscroscopy (TEM) Low Resolution (LRTEM) and High Resolution (HRTEM), analysis Scanning Transmission Electron Microscopy (STEM), and analysis TEM-Energy Dispersive X-Ray Spectroscopy (TEM-EDS), including Kit Sample Preparation Tools for electron microscope of wide range applications from advanced materials, membrane, and thin film studies. URL Link: https://www.jeol.com/products/scientific/tem/JEM-2100Plus.php
Note: Silakan pantau di URL SIMLAB berikut untuk informasi kapan layanan akan dibuka: https://simlab.undip.id/allPelayanan/detail/56