UPT Laboratorium Terpadu Undip Mulai Membuka Layanan Pengujian X-Ray Photoelectron Spectroscope (XPS)

UPT Laboratorium Terpadu Undip Mulai Membuka Layanan Pengujian X-Ray Photoelectron Spectroscope (XPS) (JPS-9030 JEOL) per tanggal 23 Januari 2025. Biaya tarif per sampel uji sudah termasuk biaya preparasi sampel. 

X-Ray Photoelectron Spectroscope (XPS) juga dikenal sebagai Spektroskopi Elektron untuk Analisis Kimia (ESCA) yang merupakan teknik spektroskopi yang memanfaatkan efek fotolistrik untuk menganalisis kandungan dan komposisi atomik unsur suatu bahan. Teknik ini sangat sensitif terhadap permukaan karena sinar X-ray yang menyinari permukaan material dan hanya menembus kedalaman sekitar 10 nm.

Pada layanan ini akan dilakukan pengujian “Wide Scan” atau “Survey Scan” yang ditandai dengan rentang energi yang luas untuk mendeteksi semua kemungkinan unsur-unsur yang terdapat pada permukaan material, dan “Narrow Scan” atau “Regional Scan” yang ditandai dengan rentang energi (binding energy – BE) tertentu yang lebih sempit sesuai dengan kebutuhan. Jenis elemen tertentu yang diinginkan diamati lebih lanjut untuk menentukan fase dan keadaan bilangan oksidasinya.

Jenis elemen tertentu yang diinginkan diamati lebih lanjut untuk menentukan fase senyawanya dan keadaan bilangan oksidasinya dengan metode fitting dan deconvolution. Pengolahan data tingkat lanjut (fitting dan dekonvolusi dan pembandingan dengan Library) seperti identifikasi unsur, identifikasi fase, komposisi kimia, dekonvolusi, dan lain sebagainya dapat dilayani dengan tambahan biaya tertentu untuk proses deconvolution-nya. Walaubagaimanapun, Pelanggan sebaiknya memberitahukan kemungkinan unsur-unsur yang mungkin ada, agar dapat meningkatkan akurasi evaluasi kuantitatifnya.

Depth Profiling menggunakan Metode X-Ray Photoelectron Spectroscope adalah Profiling Komposisi Atom berdasarkan kedalaman dari permukaan ke bagian dalam material (sedalam 10 nm).

Jenis sample yang dapat diterima untuk uji menggunakan metode XPS, antara lain: (a) Thin Film, (b) Membran, (c) Advanced Materials, dan (d)  Powder Materials.

Persyaratan sampel uji: (1). Sampel uji berupa padatan; (2). Sampel uji padatan tidak bersifat higroskopis atau tidak meleleh oleh panas. Pelanggan HARUS menyampaikan informasi target unsur / element yang mungkin ada. Pelanggan juga harus memilih jenis sumber X-Ray (Al atau Mg).

PENTING: Untuk memesan layanan ini, silakan menggunakan aplikasi Sistem Informasi Laboratorium (SIMLAB) pada tautan: https://simlab.undip.id/allPelayanan/detail/52.

Parameter-parameter yang dilayani pada metode uji X-ray Photoelectron Spectroscope (XPS) di UPT Laboratorium Terpadu ini adalah:

  1. X-Ray Photoelectron Spectroscope (XPS) (Wide Scanning dan Narrow Scanning) (saja)
  2. X-Ray Photoelectron Spectroscope (XPS) (Wide Scanning dan Narrow Scanning) (saja) + Monochromator
  3. Tambahan + Analisis Kuantitatif (identifikasi dan komposisi atomik fase senyawa) dengan Teknik Fitting dan Deconvolution serta Pembandingan dengan Library.
  4. Depth Profiling dengan Metode X-Ray Photoelectron Spectroscope.